受託分析を展開します。「TEM（透過型電子顕微鏡）による材料解析サービス」「半導体デバイス解析サービス」「回路解析サービス」を柱として、国内の各種メーカーや競合の解析会社より試料分析を受注、台湾のラボにて試料の検査を行い、結果をフィードバックします。
Si系、化合物系、磁気ヘッド、カーボンナノチューブ、触媒、セラミック、金属、ガラス基盤、高分子材料、ナノ素材、各種半導体デバイス、ICデバイスなどの分析を幅広く受注します。

■材料分析サービス（FIB/TEMを活用した膜厚・構造解析中心の観察・分析サービス）
■故障解析サービス（台湾デバイスメーカーでの経験を基に提供する専門解析サービス）
■信頼性試験サービス（半導体及び電子部品の信頼性試験サービス）

• 正社員／契約社員
• 契約更新あり（6ヶ月毎の更新）

（雇入れ直後）
FIB前処理から基礎を学びます。

（変更範囲）
分析エンジニア職として、電子顕微鏡（TEM）を使用した半導体や電子材料の解析業務や顧客との打ち合わせ、顧客との立ち合い観察などの業務をお任せいたします。
半導体を利用する大手国内企業などに、受託分析設備を貸出し、立ち合い観察をしながら分析を行います。

受動喫煙対策：あり（屋内禁煙）

（雇入れ直後）
研修は名古屋で行う場合がございます。その際は社宅を用意します。
契約社員雇用。期間は6ヶ月、更新有、更新回数上限なし。
契約終了前に正社員試験を行います。合格後、正社員へ登用できます。
不合格の場合でも、再度試験を受けることが出来ます。
（正社員登用の基準）正社員登用率100％
・試験合格（試験内容は全て研修で教わったこと）
・日常の勤務態度が良い
・試用期間あり（3ヶ月／雇用条件の変更なし）